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雷射光干涉應用於非球面鏡片檢測方法
建立日期:2018/02/12
作者:
伍家麟
出處:
工業技術研究院 伍家麟
內容:
隨著光電產品的發展趨勢,逐漸講求輕、薄、短、小。非球面透鏡的使用可以簡化光學系統的構成、提高成像品質並且降低成本,因此非球面透鏡在光電產品上的應用將愈來愈廣泛。非球面鏡片之檢測較一般球面透鏡更為困難,原因是周邊與中心有相當大之光路徑差。目前檢測非球面鏡片的常用方法各自具有其缺點,因此本論文分析了使用新式架構之雷射光干涉儀,達到非接觸式檢測以及高精度之成效,以符合業界線上快速檢測的需求。尤其有些非球面元件不能在檢測過程中遭到刮傷,且需要達到快速檢測的目的,因此在非接觸式光學量測的架構下將具有相大大之競爭優勢。
論文全文請詳檔案下載連結說明。
檔案下載:
雷射光干涉應用於非球面鏡片檢測方法
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