廠商名錄

機構簡介： 本實驗室之主要發展重點為發展精密機械、微製程及科技等領域所需之光學影像檢測技術、雷射量測技術、自動化檢測技術及精密控制技術。主要設備包括高精度影像量測系統、CCD影像顯微檢測系統、線掃描影像檢測系統、奈米級雷射位移儀、奈米級振動檢測分析儀、雷射干涉儀、光譜分析儀等。提供AOI、雷測量測及控制工程之教學及研究。並對外與研、業界進行影像檢測、機台誤差校正、與產業自動化等領域的產學合作。
供應產品品牌： 不適用
AOI主力產品/
AOI研究題目： 1.定位系統之六自由度誤差雷射量測與定位誤差補償
2.線掃描影像檢測
3.AOI檢測設備之影像扭曲校正與補正
4.高精度影像量測設備之研製 4.線掃描影像檢測
5.晶圓及FDP瑕疵檢測等
代表性獎項 /
實績： 1.協助業界進行PCB曝光機及底片AOI檢查機之定位誤差量測、分析及補償。
2.協助業界進行晶圓切割機之定位設備的定位誤差量測及分析。
3.協助業界進行顯微影像量測及分析。
4.協助科學園區廠商開發晶圓清洗機之電控硬體與程式設計。
5.協助科學園區廠商開發IC上板機之自動化程式之設計與測試等。