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半導體高階封測轉往 3D,凌華結合「機器視覺」與「運動控制」克服精度挑戰

日期:2021-06-25

受惠於 5G、AI、IoT 應用的快速發展,半導體產業近來展現出強勁的成長動能,而要把 5G 或 AI 晶片做到高性能、高整合度和低功耗,連帶地也推升了傳統封裝與測試產業朝 2.5D、3D 的高階製程移轉。

隨著扇形封裝技術(FOWLP),和先進封裝技術(3DFabric)出現,也讓傳統封測產業面臨新的技術挑戰,必須採用更精準定位的解決方案,才能以最具成本效益的方式,提高良率與產能。

為何半導體高階封測在精準定位的難度提高?除了須解決 5G 時代下待測物外型變小、不平整問題之外,還需克服少量多樣的趨勢中,機台頻繁改機、換程式的需求。因此,凌華科技 ADLINK 積極把更具擴充性的 PC-based 運動控制技術,結合機器視覺功能導入高階封測領域,以滿足業者對於晶片多樣性,以及精度與速度的高要求。

本文列點如下:
5G、AI 封測大趨勢:從平面朝 3D IC 移轉,精度與速度新挑戰
3D IC 封測的精度需求,為何需要「機器視覺+運動控制」?
高階封測著重「視覺」需求,凌華 PC-based 解決方案帶來哪些成效?

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