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知識分享

應用線掃描視覺技術於素面布料染整瑕疵檢測之研究

建立日期：2020/11/09
  • 作者： 高科大機械系/許光城、蔡佳瑋、丁凡琇
  • 出處： 2020 AOI論壇與展覽
  • 內容： 本篇為「2020 AOI論壇與展覽」論文集，摘要如下：

    布料在染整過程中容易受到各種因素而導致瑕疵之產生，現今之布料瑕疵檢測，大多由人工目視方法進行，容易因人為疏失及冗⾧工時而導致誤判或漏檢之情形發生，本研究以具線掃描功能之 IDS 工業相機，搭配條狀 LED 白光燈條，作為影像擷取系統，並透過工業相機之官方軟體 uEye Cockpit 進行參數設定及調整；建構模擬滾筒裝置，使拼合後之影像如驗布機平面傳送布料時擷取之二維影像，同時在不斷旋轉情況下，模擬高⾧度布料實際進行檢測時之⾧時間檢測。

    本研究當模擬滾筒旋轉之切線速度為 0.9 m/s 時，線掃描相機以畫素時脈 474MHz 以及單次掃描數量為 10 行進行影像擷取，取得之影像於總⾧ 210 mm 時最小縱向變形量為 0.152 mm，並且在擷取之影像中，觀察到照光不均勻之現象，該現象源自於系統之光源為非線性光源所致；在照光不均勻條件下，以分區顏色分離方法搭配閉運算，可在瑕疵特徵僅有些微損失的情況下有效消除雜訊，並將瑕疵檢出，且自動檢測系統可穩定判別有瑕疵或無瑕疵之染整布料其中深色布料可檢出黑色瑕疵之最小寬度為 0.022 mm。
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