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Automatic optical inspection system & method (1)
建立日期:2018/02/21
作者:
Orbotech
出處:
USPTO-美國專利商標局
內容:
本篇內容為Orbotech於April 10, 2007 獲證之美國專利,下文為專利摘要,專利全文請連結參考網址,瀏覽專利全文所需看圖軟體請至 http://www.alternatiff.com/ 下載。
Orbotech在此主題上獲證4篇專利,將一一介紹。
A system comprising automatic apparatus for automatic optical inspection (AOI), verification and correction of defects in an article, and a processor operative to select between AOI, verification and correction for performing on the article.
參考網址:
專利全文
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