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High-sensitivity optical scanning using memory integration (1)
建立日期:2018/02/21
作者:
Orbotech
出處:
USPTO-美國專利商標局
內容:
本篇內容為March 7, 2006 獲證之美國專利,下文為專利摘要,專利全文請連結參考網址,瀏覽專利全文所需看圖軟體請至 http://www.alternatiff.com/ 下載。
Orbotech後續針對此發明,另提出改良案,將另行介紹。
An inspection system includes a CMOS integrated circuit having integrally formed thereon an at least two dimensional array of photosensors and providing an inspection output representing an object to be inspected. A defect analyzer is operative to receive the inspection output and to provide a defect report.
參考網址:
專利全文
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