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光致變色式全像形變量測系統
建立日期:2018/03/09
作者:
中央大學:楊洋、李朱育
出處:
2016 AOI論壇與展覽
內容:
本研究使用光致變色鏡片作為全像干涉術之紀錄媒體並且使用紫光405nm雷射作為光源,開發一套精簡的形變量測系統。量測過程中不需將記錄媒體取下進行顯影、清洗、風乾等步驟,可降低取下紀錄媒體再裝回原位產生偏移所造成的誤差以及節省許多時間。此外將光源關閉後,全像光柵將逐漸洗去,因此不需更換紀錄媒體。
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