top

知識分享

影像處理法應用於奈米銀線導電薄膜覆蓋率暨雷射剝蝕參數分析

建立日期：2018/03/12
  • 作者： 儀科中心-蕭文澤、楊智仲、林奕成、李承儒、曾釋鋒、黃國政
  • 出處： 2017 AOI論壇與展覽
  • 內容： 功能性薄膜材料如：奈米銀線、透明導電薄膜等沉積於玻璃基板，隨著雲端、4G通訊、穿戴型裝置及物聯網產業快速發展因此被廣泛應用。本研究係針對奈米銀線(silver nanowire)旋塗於氧化銦錫(Indium tin oxide, ITO)透明導電薄膜上形成導電網格(network)，透過影像處理分析計算得奈米銀線之覆蓋率(coverage)。再利用紫外光雷射進行不同參數的剝蝕實驗，藉由3D共焦顯微鏡分析剝蝕深度與寬度、掃瞄式電子顯微鏡與能量散射光譜儀(EDS)，針對剝蝕後殘留的導電薄膜進行分析探討剝蝕參數對於複合式導電薄膜交互作用關係。
  • 檔案下載：全文下載
  • 下載次數：19
回上頁