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知識分享

基於生成對抗網路之非監督式AOI技術

建立日期：2018/10/12
  • 作者： 工研院/蔡雅惠經理
  • 出處： 2018 AOI論壇與展覽
  • 內容： 國內工業製程中經常採用自動光學檢測(Automated Optical Inspection，簡稱AOI)設備做為品質管控手法之一，但也時常面臨檢出正確率無法符合業者期望之問題，若設定嚴格檢測標準，雖可降低漏檢率但也將造成誤殺率過高，抑或是瑕疵不易判別，容易受背景紋路混淆造成漏判等問題，對AOI設備商調機及驗收總帶來困擾。本場演講邀請於機器視覺領域逾二十年經驗的工研院機械所 蔡雅惠經理來分享，透過AI與AOI技術結合來解決前述問題，將有助於AOI設備之檢出正確率提升。
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