知識分享

深度學習於表面瑕疪檢測part1

建立日期:2018/10/12
  • 作者: 元智大學/蔡篤銘教授
  • 出處: 2018 AOI論壇與展覽
  • 內容: 蔡篤銘教授在近三十年期間持續將研究重點集中於機器視覺於工業界之自動瑕疵檢測,以提升產業製程和產品之品質。所發展之自動光學檢測技術已應用於印刷電路板(Printed Circuit Board, PCB )、液晶顯示面板(Liquid Crystal Display, LCD)、半導體、多晶矽太陽能板等表面瑕疵檢驗。本場演講蔡教授將分享如何運用深度學習中的卷積神經網路CNN (Convolutional Neural Network)生成對抗式網路 GAN (Generative Adversarial Network)、自動編碼器 AE (Autoencoder)等技術於PCB、PV、LCD之瑕疵檢測。
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