知識分享

使用對抗式生成的瑕疵進行異常檢測

建立日期:2020/11/17
  • 作者: 崴強科技/劉維晉、陳佩萱、宋育寰
  • 出處: 2020 AOI論壇與展覽
  • 內容: 本篇為「2020 AOI論壇與展覽」口頭發表簡報資料,請參閱內文。
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