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雷射點矩陣直寫儀
Sparkle
發布日期:2018-03-13
研發團隊:
李世光
研發團隊負責人:
技術類別:
特殊光學設計、量測方法
應用領域:
技術簡介:
繞射式光學元件個人電腦暨網際網路設計工作站之整合,開發嶄新元件設計方法、各式母版生產、量產及測試設備。所得成果技轉合作廠商,並協助開發完成高科技產品以行銷全世界。技轉開發之各種非破壞檢測及光波波前檢測設備、雷射點矩陣直寫儀(命名Sparkle)由技轉廠商全球行銷推廣中,上述儀器功能領先全球,獲全球重視,並多次榮獲我國光電優良產品獎、精品獎、光學工程技術貢獻獎等榮譽。
技術規格:
1.Grating pitch: software adjustable, six colors
2.Dot resolution: 150 dpi to 1300 dpi
3.Exposure rate: up to 15 dots/sec
4.Exposure size: standard 8” x 10”
5. maximum 300mm x 300mm
優點:
1.High speed and high resolution (up to 15 dots/sec and up to 1300 dpi)
2.Fully computer keyboard controlled; powerful, friendly, easy-to-use GUI controlling program.
3.Preview function allows a rough and detailed preview. Handles any *.bmp file for easy downloading.
4.Unique optical head allows user to specify multiple colors
5.Allows user to incorporate dynamic or kinetic effects into design
6.Calculates optimal exposure path to create master
合作或技轉聯絡人:
廖宏榮總經理/ TEL 02-22265554/手機0222265554/
eric@ahead.com.tw
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