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技術供應

R2R UV光學膜厚度量測技術
The thickness of R2R UV optical film measurement

發布日期：2018-03-14
  • 研發團隊： 陳俊賢
  • 研發團隊負責人： 陳俊賢
  • 技術類別： 其他
  • 應用領域： FPD檢測
  • 技術簡介： R2R滾壓製程在多項產業已有重要應用，如照明、顯示器、太陽能等都有相關需求，此技術以大面積、生產速度快為其主要優勢。現今滾壓產業趨勢朝向製作複合多功能光學膜片，因此，發展連續式R2R滾壓複合膜厚度量測技術提供線上檢測能力，對上述未來需要大量生產微光學膜技術領域之產業，可提供精確、高品質、快速和降低生產成本的解決方法。
  • 技術規格：
    1. 1.可檢測UV光學膜片厚度20～200μm （含基材）
    2. 2.可檢出膜層楔角度誤差≦1e-3 rad。
    3. 3.膜片檢測速度≧6m/min
  • 優點：
    1. 1.非接觸式量測，不刮傷光學膜片
    2. 2.多層厚度量測，可量測內層厚度
    3. 3.線上快速量測，不需離線量測
  • 合作或技轉聯絡人： 陳俊賢/ TEL 03-5743718/手機0972291857/ Jim.chen@itri.org.tw
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