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技術供應

TFT-LCD陣列工程線上自動化視覺檢測系統
Array Engineering In-line Automated Optical Inspec

發布日期：2018-03-13
  • 研發團隊： 章明、劉益宏
  • 研發團隊負責人： 章明
  • 技術類別： 其他
  • 應用領域： FPD檢測
  • 技術簡介： 與中華映管公司合作開發TFT-LCD陣列工程之線中瑕疵自動偵測及辨識系統，其主要分為五道光罩，每一道光罩皆在微影製程後端架設獨立之瑕疵辨識系統，利用類神經網路、統計方法、影像處理、資料探勘等理論，可將數十種瑕疵在陣列工程完成之前即時偵測並分類，提供線上工程師即時之面板瑕疵資訊，進而提供製程與設備診斷及維護之重要參考。
  • 合作或技轉聯絡人： 劉益宏/ TEL 03-2654306/手機032654306/ 無提供
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