登入
facebook
google-plus
twitter
linkedIn
活動看板
產經情報
廠商名錄
知識分享
需求快遞
技術供應
網站連結
會員專區
聯絡AOIEA
訂閱電子報
facebook
google-plus
twitter
linkedIn
技術供應
首頁
>
技術供應
字級設定:
大
中
小
收藏
.
.
多通道色度/薄膜厚度量測系統
The Multi Channals Chhromaticity/Film Thickness ..
發布日期:2018-03-13
研發團隊:
楊富程
、
吳智誠
研發團隊負責人:
技術類別:
光學特性量測
應用領域:
技術簡介:
本系統以多通道光譜儀為核心設計多通道分光式彩色分析儀,提供兼顧量測速度及量測資訊完整性之系統,達成同時多點多角度之分光光譜量測之功能。
合作或技轉聯絡人:
楊富翔/ TEL 03-5743882/手機035743882/
無提供
分享本訊息:
分享到 facebook
分享到 google+
分享到 twitter
分享到 linkedin
回上頁