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技術供應

新型極化敏感光學同調斷層掃描術
New Type of Polarization-Sensitive Optical Coheren

發布日期：2018-03-13
  • 研發團隊： 羅裕龍、廖佳麒、葉政諺
  • 研發團隊負責人： 羅裕龍
  • 技術類別： 光學特性量測
  • 應用領域：
  • 技術簡介： 針對雙折射光學材料各項參數之量測，本實驗室發展一個新型極化敏感光學同調斷層掃描(PSOCT)技術，改良其軸向解析度，使用低成本的定位平台及熱光源進行量測，並考慮光之偏振態，進行非侵入式微米級橫截面檢測雙折射材料，可直接量得厚度、平均折射率、相位延遲、光軸方位角，再進一步演算可得：階數、雙折射特性、尋常及尋常折射率，將數據整合便可得到四分之一玻片所能含括之光學參數。
  • 技術規格：
    1. 1.以低同調干涉儀為基礎架構
    2. 2.使用超寬頻譜之熱光源，鹵素燈
    3. 3.加入偏振片及四分之一玻片導入偏極光干涉術
    4. 4.多加參考固定端干涉光束，可不需高精度定位平台
  • 優點：
    1. 1.使用熱光源，深度解析最佳可達1.5μm，較一般OCT精度更高
    2. 2.加入固定端參考光束，可不需使用昂貴的高精度定位平台
    3. 3.進行可能材料之雙折射特性理論演算比對，可獲得四分之一玻片所有光學參數
    4. 4.使用低成本的熱光源及定位平台，系統造價較無一般PSOCT之昂貴
  • 合作或技轉聯絡人： 羅裕龍/ TEL 06-2757575#62123/手機062757575/ 無提供
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