技術供應

液晶/光學膜相位差量測系統
Liquid Crystal/Compensation Film Retardation ...

發布日期:2018-03-13
  • 研發團隊: 莊凱評劉志祥
  • 研發團隊負責人:
  • 技術類別: 光學特性量測
  • 應用領域: FPD檢測
  • 技術簡介: 光學相位差量測系統結合影像光譜儀及偏振光學量測技術,影像光譜儀具有及時多點量測光譜資訊功能,配合利用偏振光學量測技術達到同時求解具波長資訊之相位差分布,並可以從量測到的相位差數值轉換成所需之檢測參數,例如利用液晶間隙厚度及光學補償模相位缺陷等。
  • 技術規格:
    1. 1.相位差範圍:10
    2. 2.1000 nm
    3. 3.相位差解析度:±1 nm
    4. 4.Spot Size:1
    5. 5.10 nm
    6. 6.量測探頭數目:8 channels(max)
  • 優點:
    1. 1.具有同時量測波長相關之相位差分布。
    2. 2.影像視光譜儀體積小,又具有同時多個待測點之量測功能,可以節省擴充量測探頭時購機成本。
    3. 3.可以量測待測物各種旋轉角度之不同視角相位差分布資訊
  • 合作或技轉聯絡人: 莊凱評/ TEL 03-5743831/手機035743831/ kpchuang@itri.org.tw