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技術供應

微影與光電量測視覺化光場檢測系統
Micro-imaging and Optical measurement system

發布日期：2018-03-13
  • 研發團隊： 林宸生、張書綺、黃國紘、劉碩茸、吳俊旻、李坤城
  • 研發團隊負責人： 林宸生
  • 技術類別： 光學特性量測
  • 應用領域： 其他：
  • 技術簡介： 著重在應用於光電元件之微影視覺化光場檢測系統之開發，強調產學合作、創新與實務並重，設計許多視覺化光場檢測功能模組，例如光碟型生物晶片之快速檢驗、加工檢測，以及數位微鏡面器件(DMD)微光機電結構機器視覺化三維(3D)特性量測系統裝置等，並將其應用在液晶顯示器（LCD）及其導光板、PCB、生物試劑、雷射二極體(LD)封裝之光場檢測上。
  • 技術規格：
    1. 1.光場均勻性檢測，以視窗化顯示量測項目及結果
    2. 2.進行導光板光場檢測及設計之修正工作
    3. 3.內含外型分析及亮度分佈分析軟體加以分析並分級
    4. 4.保持高度彈性，易於整合
    5. 5.整合脈衝光源、顯微鏡頭、伺服馬達之架構與控制器
  • 優點：
    1. 1.提高檢測速度，並降低線上檢測之誤差(誤差在1%以內)
    2. 2.對迅速可供加工利用之優良品加以分級
    3. 3.累積統計功能供整批產品之品質管制與後續追蹤分析
    4. 4.自動篩選出瑕疵品，以非平均式掃瞄程序增進處理速度，並有並可列印各項資料
    5. 5.在經濟且有效率的條件下完成產學合作之使命
  • 合作或技轉聯絡人： 林宸生/ TEL 04-24517250#3929/手機0424517250/ 無提供
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