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基於深度學習之瑕疵檢測技術

建立日期:2022/01/04
  • 作者: 雲科大智慧辨識中心/張傳育主任
  • 出處: 2021 AOI論壇與展覽
  • 內容: 本篇為「2021 AOI論壇與展覽」演講簡報,內容簡介如下:

    製造廠在產品外觀檢測上多仰賴視覺檢測技術來找出瑕疵,然而原有的自動光學檢測系統無法因應產品的多樣化,嚴重影響檢測效能,造成後續人工檢測工作量大增,且廠商通常無法提供足夠的瑕疵影像供AI模型訓練。我們開發基於生成對抗網路的AI模型,及增量式學習技術,解決原本光學檢測系統無法快速適應新產品的問題,滿足產業對於產品極高良率要求。目前已實際應用於DRAM模組中焊接點檢查、輪胎氣泡檢測、太陽能瑕疵檢測等。
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