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Automatic TFT-LCD Mura Defect Inspection Using DCT-based Background Filtering and JND Quantification
建立日期:2018/02/21
作者:
陳亮嘉等
出處:
台北科技大學自動化所 陳亮嘉、 Chia-Cheng Kuo
內容:
本技術係關於一種影像亮度不均瑕疵的檢測方法,特別是指一種利用離散餘弦轉換(Discrete Cosine Transform, DCT)重新建構出不具瑕疵之原始背景影像,以解決影像非均一性之檢測問題,再由原始瑕疵影像與不含瑕疵的背景影像之相異性,透過適當的閥值選取,可將影像亮度不均瑕疵從影像中分割出來的檢測方法。
本文章已在Measurement. Science Technology Vol. 19, 01 5507, 2008發表,版權屬於MST,全文請詳附加檔案連結說明。
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