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應用在晶片電阻陶瓷基板下的面積計算與瑕疵檢測法-以顆粒電阻為例

建立日期：2018/02/12
  • 作者： 鄭文瑋等
  • 出處： 台灣愛司帝科技股份有限公司 鄭文瑋、劉柏劭
  • 內容： 本研究針對陶瓷基板晶片電阻上的瑕疵，利用電腦視覺技術提出了一個自動化的檢測方法。在晶片電阻的製造過程中，常常因為產線機器的印刷油墨塗抹不均勻而產生瑕疵，這些瑕疵包含：印刷不良、溢出與破損。而晶片電阻是電子儀器中相當重要的元件，假如出現上述的瑕疵，將會使電子產品的壽命減短，甚至有可能造成無法預知的危險。現階段晶片電阻的製造商還是利用人工來做瑕疵判斷，使用人工來檢測必須使產線機器暫停，所以只能採取抽檢的方式，不僅浪費人力，也無法保障產品品質。所以本研究針對這樣的問題，提出一個自動化檢測方法，只需要使用成本較低的CCD鏡頭與個人電腦，建立影像參數模型，就可自動對所有陶瓷基板做檢測，經由本研究實際在產線測試的結果，平均每片基板的檢測時間只需要0.27秒，準確率幾乎達100%以上，且不需暫停機台，達到了提升效率、減少成本與提高品質三項目標。

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