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知識分享

雷射光干涉應用於非球面鏡片檢測方法

建立日期：2018/02/12
  • 作者： 伍家麟
  • 出處： 工業技術研究院 伍家麟
  • 內容： 隨著光電產品的發展趨勢，逐漸講求輕、薄、短、小。非球面透鏡的使用可以簡化光學系統的構成、提高成像品質並且降低成本，因此非球面透鏡在光電產品上的應用將愈來愈廣泛。非球面鏡片之檢測較一般球面透鏡更為困難，原因是周邊與中心有相當大之光路徑差。目前檢測非球面鏡片的常用方法各自具有其缺點，因此本論文分析了使用新式架構之雷射光干涉儀，達到非接觸式檢測以及高精度之成效，以符合業界線上快速檢測的需求。尤其有些非球面元件不能在檢測過程中遭到刮傷，且需要達到快速檢測的目的，因此在非接觸式光學量測的架構下將具有相大大之競爭優勢。

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