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知識分享

利用MPRT量測最佳化液晶顯示器之過驅電壓

建立日期：2018/02/12
  • 作者： 趙鴻欣等
  • 出處： R2D探矽光電科技 趙鴻欣、趙慕霖
  • 內容： 形成LCD動態模糊的主要原因有兩個：遲緩的LC灰階反應時間（約佔30%）與LCD的Hold-Type Display顯示原理（約佔70%）[1]。為了量化這種動態模糊，有多種量測技術被陸續提出，這些方式可區分為兩大類：空間積分與時域積分。越來越多的研究指出[1-4]，由於前者必須使用高速攝影機[5]或追蹤模組（用以追蹤移動圖樣）[6]，他們必須克服由鏡頭失焦或追蹤誤差所造成的雜訊[4]，所以這些量測設備通常極為複雜且昂貴。不同於透過空間積分的方式，利用時域的灰階反應曲線量測，MPRT量測可以更輕鬆達到且準確性也更高。而且基於相似的系統架構，這種量測系統除了可以量測MPRT之外，更可用來量測傳統的GLRT。
    在降低因遲緩的LC灰階反應時間所造成的動態模糊上，最常見到的方式就是過驅電壓技術（Overdrive Technology）[9-11]。但即便這項技術已經被廣泛應用到LCD顯示器，至今仍缺乏有系統、效率的方式去產出最佳的過驅電壓查表（OD-LUT, Overdrive Look-Up Table）。如果過驅電壓過強的話，可能會在動畫內容的邊緣處看到明顯的過暗或過亮的邊緣，稱為Side Effect或Double Edge[3]。所謂的最佳OD-LUT，就是要能針對特定面板，盡量縮小其動態模糊與Side Effect。
    目前業界在產生OD-LUT時，仍是利用人工的方式，針對各個灰階去做手動調整。這種缺乏效率的方法，往往需耗費數天至數週的時間去調整單一面板，而且這種因人而異的調校方式，也比較無法維持固定品質。本篇論文提出一個全自動系統，根據LCD面板的MPRT特性去搜尋最佳化的OD-LUT。

    論文全文請詳檔案下載連結說明。
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