知識分享

應用線掃描視覺技術於素面布料染整瑕疵檢測之研究

建立日期:2020/11/17
  • 作者: 高科大機械系/許光城、蔡佳瑋、丁凡琇
  • 出處: 2020 AOI論壇與展覽
  • 內容: 本篇為「2020 AOI論壇與展覽」口頭發表簡報資料,請參閱內文。
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