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新型極化敏感光學同調斷層掃描術
New Type of Polarization-Sensitive Optical Coheren
發布日期:2018-03-13
研發團隊:
羅裕龍
、
廖佳麒
、
葉政諺
研發團隊負責人:
羅裕龍
技術類別:
光學特性量測
應用領域:
技術簡介:
針對雙折射光學材料各項參數之量測,本實驗室發展一個新型極化敏感光學同調斷層掃描(PSOCT)技術,改良其軸向解析度,使用低成本的定位平台及熱光源進行量測,並考慮光之偏振態,進行非侵入式微米級橫截面檢測雙折射材料,可直接量得厚度、平均折射率、相位延遲、光軸方位角,再進一步演算可得:階數、雙折射特性、尋常及尋常折射率,將數據整合便可得到四分之一玻片所能含括之光學參數。
技術規格:
1.以低同調干涉儀為基礎架構
2.使用超寬頻譜之熱光源,鹵素燈
3.加入偏振片及四分之一玻片導入偏極光干涉術
4.多加參考固定端干涉光束,可不需高精度定位平台
優點:
1.使用熱光源,深度解析最佳可達1.5μm,較一般OCT精度更高
2.加入固定端參考光束,可不需使用昂貴的高精度定位平台
3.進行可能材料之雙折射特性理論演算比對,可獲得四分之一玻片所有光學參數
4.使用低成本的熱光源及定位平台,系統造價較無一般PSOCT之昂貴
合作或技轉聯絡人:
羅裕龍/ TEL 06-2757575#62123/手機062757575/
無提供
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