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面型CCD為基礎之平面白光光源色度量測系統

建立日期:2018/02/09
  • 作者: 陳瑞彬等
  • 出處: 國家實驗研究院儀器科技研究中心 陳瑞彬先生、溫仁佑先生、魏子軒先生、蔡瑞鴻先生
  • 內容: 平面光源為顯示器中的關鍵零組件,對於平面光源品質檢測亦需格外重視,一般而言,平面光源的檢測項目主要有輝度(Luminance)、均勻度(Uniformity)及色度(Color)等。本文嘗試利用均勻光源、色塊及分光光色計,進行CCD的色度取像校正,以線性方式建立(RGB)CCD與校正色塊三刺激值(XYZ)之轉換函數,爾後即可利用一面型CCD取像模組,以一次取像方式擷取平面光源資訊進行多點色度計算。有別於單點光色計檢測架構需搭配移動平台才能量測多點的色度座標值,以面型CCD取像模組進行量測可大幅提高多點量測的效率。
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