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知識分享

液晶面板Cell Gap 量測技術

建立日期：2018/02/09
  • 作者： 莊凱評等
  • 出處： 工研院量測中心 莊凱評、G. Dyankov、劉志祥、林友崧，明志科技大學機械工程系 王浩偉
  • 內容： 本論文提出一利用光譜量測的方法來量測液晶層cell gap 的厚度，待測物為一已經注入液晶的TN型式面板，並在已知液晶材料的折射率(波長589 奈米)及液晶預傾角（Pre-tilt Angle）的情況下，我們設計了一量測方法來決定Cell Gap 厚度，從一開始如何量測液晶扭轉角（Twist Angle）及液晶配向角（Rubbing Direction Angle），到如何量測計算得到Cell Gap 厚度。在Cell Gap 的理論計算上，主要是利用光譜量測方法所計算得到的相位差（Retardation），並在已知波長589 奈米的液晶折射率情況下，我們可以求得cell gap 的厚度。對於量測的系統架構，我們使用一自行開發的多通道影像式光譜儀來量測樣品的光譜資訊。我們透過量測方法及系統架構的開發，以期滿足線上快速檢測的需求。

    【論文全文請詳附加檔案說明】
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