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以CCD 為基礎之中大尺寸背光模組光源輝度、均勻度之檢測系統

建立日期：2018/02/12
  • 作者： 魏子軒等
  • 出處： 國家實驗研究院儀器科技研究中心魏子軒、陳嘉宏、蔡瑞鴻、陳瑞彬、溫仁佑、江偉傑
  • 內容： 近年來，背光模組的檢測已是一項極為重要的工作。本文提出一個以多顆面型CCD 取像模組為基礎，以推掃式為取像方式之背光模組檢測系統，一片背光模組若要檢測數千甚至上萬個點，僅需十多秒鐘。由於CCD 組裝上之誤差，系統需做影像鑲嵌之動作，以取得相對應之座標轉換係數，從而得到具有準確相對位置之影像。經由實驗，經過座標轉換後之座標精度在x 方向平均誤差為0.35個像素，在y 方向平均誤差為0.4 個像素。此外，系統中為修因成像鏡頭在面型CCD 上所產生之不均勻效應，各顆CCD 皆以一均勻光源及一亮度輝度計來建立面型CCD 每一像素的訊號轉換函式。經由實驗，面型CCD 的每個像素經由各自的訊號轉換函式修正後其非均勻性小於1 %。最後，此檢測系統實際量測輝度範圍為10-15000 nits 的平面光源，將量測結果與亮度輝度計的讀值做比較，得到的相對誤差均小於1.5 %。

    【論文全文請詳附加檔案說明】
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