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活動看板

X-Ray科技驅動下的半導體檢測革新與未來展望研討會
  • 日期： 2025/12/04~2025/12/04
  • 地點： 新竹市光復路二段321號1館8樓804會議室(工研院量測技術發展中心)
  • 主辦單位： 經濟部
  • 費用： 免費活動
  • 聯絡資訊： 簡小姐/TEL 03-5732275 / JANE_C@itri.org.tw
  • 活動介紹： 隨著半導體製程持續朝向奈米尺度與3D結構演進，傳統的光學與電子檢測手段逐漸面臨解析度與穿透深度的限制。X-Ray（X射線）檢測技術以其高穿透力、非破壞性及高靈敏度特性，正成為次世代晶片封裝、失效分析與品質檢測的重要工具。本研討會將聚焦X-Ray在半導體產業中的最新應用進展，從封裝製程、材料分析到晶圓級檢測，探討其如何驅動檢測技術革新，並展望未來X-Ray整合的智慧檢測趨勢。
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