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可合作項目
暨南國際大學/應用材料及光電工程學系/奈米元件光學觀測實驗室
機構性質:
AOI學術機構
AOI產品類別:
FPD檢測
PCB檢測
半導體/晶粒檢測
元件/模組/平台
地址:
545南投縣埔里鎮大學路一號 (科技四館419室)
網址:
http://staffweb.ncnu.edu.tw/hchen/index.html
全球據點:
亞洲
登記資本額:
不適用
負責人/
實驗室主持人:
陳 祥特聘教授
員工人數/
實驗室人數:
14
設立日期:
2009
上市櫃日期:
不適用
業務聯絡人:
陳 祥特聘教授
電話:
049-2910960 # 4909
傳真:
049 - 2912238
電子信箱:
hchen@ncnu.edu.tw
機構簡介:
缺陷及製程上的瑕疵往往造成元件穩定性的問題,所以缺陷及穩定的偵測及改善是必要的。無論針對主流的矽電子元件及氮化鎵電子及光電元件,電性的量測,材料的分析及光學特性的分析,是研究半導體元件穩定性重要的工具。我們以高解析度低溫弱光的CCD Camera, 以非侵略性(non-invasive)且即時(real-time)的方式觀察內缺陷及漏電流的發光並配合電性及材料分析綜合分析比較,以對元件的品質作即時及非破壞性的篩檢,並在可預見的未來應用在工業上。
供應產品品牌:
不適用
AOI主力產品/
AOI研究題目:
1.氮化鎵材料
2.氮化鎵光電計
3.氮化鎵材料
4.氮化鎵光電及電子元件
5.矽高介電絕緣層
代表性獎項 /
實績:
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