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廠商名錄

財團法人工業技術研究院/量測技術發展中心

  • 地址： 300新竹市新竹市光復路2段321號
  • 網址： https://www.nml.org.tw/
  • 全球據點： 亞洲
  • 登記資本額： 不適用
  • 負責人/
    實驗室主持人：     藍玉屏
  • 員工人數/
    實驗室人數：     350
  • 設立日期： 1987
  • 上市櫃日期： 不適用
  • 業務聯絡人： 曾莉莉 經理
  • 電話： 03-5743705 #
  • 傳真： -
  • 電子信箱：lilytseng@itri.org.tw
  • 機構簡介： 工研院量測技術發展中心於技術方面之研究，主要工作為建立與維持國家量測標準，開發關鍵性量測及自動光學檢測技術，推動中華民國實驗室認證體系及提供工業服務、工業品保等。
  • 供應產品品牌： 不適用
  • AOI主力產品/
    AOI研究題目：     1.白光干涉表徵顯微儀：IC、LCD、PCB、MEMS元件3D尺寸、超精細加工機械元件； 奈米量測Z軸自動掃描
    2.小型化原子力顯微鏡： 測量IC 、TFT 、精密光學、奈米粉體、奈米結構以及生物3D尺寸
    3.多通道色度/薄膜厚度量測系統：薄膜厚度、彩色濾光片色度、穿透率；線上同時多點量測
    4.液晶/補償膜相位差與厚度檢測儀：液晶面板Cell Gap、光學膜相位差、薄膜雙折射特性、液晶預傾角
    5.應力檢測技術：薄膜相位延遲量測、透明材料應力檢測
    6.手機鏡頭瑕疵檢測技術：手機、相機、Webcam、液態鏡頭模組及玻璃基板等相關透明/半透明材質之缺陷檢測
    7.表徵顯微動態量測技術：微機電元件、平面喇叭、微麥克風、薄膜振動量測及AFM探針振動量測
    8.增亮膜及其'光學膜仁表面三維形貌檢測'設備：BEF表面微結構：量測大斜率表面形貌尺寸
    9.PCB軟板自動光學缺陷檢測設備：自動缺陷檢測貼有保護膜之PCB軟板
    10.光譜攝影機：晶圓缺陷、LED光譜、LCD CF檢測， 線形視野多通道快速量測
  • 代表性獎項 /
    實績：     1.完成可移轉技術項目： a.高密度通道光譜影像量測技術、 b.高密度光譜分析技術、 c.垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術、 d. 3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷 路及短路之缺陷檢測技術、e. HDI-PCB銅箔線路雷射盲孔缺陷檢測探頭技術
    2.促成國內自動光學檢測產業技術聯盟的建立，提升台灣儀器產業技術水準，朝向與製程整合之自動檢測技術，以提昇整體儀器產業產值
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