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宏明科技有限公司
機構性質:
AOI測試服務/技術顧問
AOI產品類別:
FPD檢測
PCB檢測
半導體/晶粒檢測
印刷/紡織檢測
太陽光電檢測
元件/模組/平台
地址:
238新北市樹林區中山路一段390號
網址:
http://www.hmtech.com.tw
全球據點:
亞洲
登記資本額:
500萬元
負責人/
實驗室主持人:
張君瑋
員工人數/
實驗室人數:
10
設立日期:
2002
上市櫃日期:
不適用
業務聯絡人:
黃心怜
電話:
02-86751543 # 12
傳真:
02 - 86751545
電子信箱:
info@hmtech.com.tw
機構簡介:
宏明科技以真實呈現光的特性為願景,提供以光譜在產品研發、生產及管理方案的光學技術與專業,自行開發生產各式光學先端技術檢測儀器,並代理銷售國內外理化實驗相關儀器、耗材,以提供業界齊全的光譜應用產品。 宏明專精於光學特性檢測技術(穿透率、反射率、光學膜厚、色度) 在螢光光譜、拉曼光譜及近紅外光光譜檢測領域亦有多年經驗,並與自動化技術整合,可應用在一般生物及化學實驗、光學鍍膜、表面處理、發光材料、PLED、OLED、生物晶片、太陽能電池及微機電系統之研發及生產工作。 2016年8月成立宏明科技校正實驗室,依據國際標準ISO/IEC 17025: 2005運作,並於2017年8月通過「財團法人全國認證基金會TAF」之認可,成為公正第三方認證校正領域實驗機構。
供應產品品牌:
HMT(自有品牌)、B&W TEK、Optometrics
AOI主力產品/
AOI研究題目:
1.ITO-001 ITO薄膜影像量測儀
2.線上自動穿透/膜厚/反射/色差量測系統
3.CR-001 IC邊裂IR影像缺陷檢測系統
4.近紅外光影像擷取系統
5.光纖式可見光、紫外光、近紅外光分光光譜儀
6.可攜帶式拉曼光譜儀
7.可變角度多功能光學特性檢測系統
8.螢光光譜檢測系統
9.顯微分光光譜儀
10.電漿光譜檢測系統(OES)
11.各式光學元件及光源
12.高光譜分析儀及軟體開發
13.Micro LED 面型光譜檢測儀
代表性獎項 /
實績:
1.奇美、明碁、中美晶、帆宣、茂迪、TPK、友達、工研院、中科院、中研院、核研所、台大、清大、中山大學、成大、台南大學、中興大學、彰化師大、高雄大學、明志科技大學
2.TAF 認證實驗室(穿透率及反射率機台及標準片校正能力)
手動多功能光學檢測儀
固定式IR孔穿透率量測儀
可變波長光源系統
MFS-R 反射率量測儀
手動光學薄膜厚度量測儀
日光模擬光源
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