世界先進近日宣布，委託國立交通大學智慧綠能產學研究所暨華大—交大人工智慧實驗室進行「AI晶圓表面瑕疵偵測研究計畫」，由美國華盛頓大學教授黃正能、交通大學教授彭文孝與副教授馬清文共同主持。
此項研究計畫係利用新型AI開發平台的人工智能演算法，對晶圓製造完成後之瑕疵影像進行判讀其瑕疵型態，並做分類。由世界先進公司提供製程影像資料，搭配人員進行影像標籤，訓練人工智能演算模型的圖像判讀能力，增加瑕疵複檢的效率；同時，當此通用型偵測模型運用到不同產品線時，亦能有效減少50%到70%的人工標籤負擔，更快速地複製此人工智能模型至其他產品線，提升強化世界先進公司的晶圓製造能力與效率
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