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知識分享

應用獨立成份分析於TFT-LCD瑕疵檢測

建立日期：2018/02/21
  • 作者： 張燦輝等
  • 出處： 鴻海精密運動控制中心 張燦輝，成功大學製造工程所 陳響亮、楊晉欽
  • 內容： 一般於瑕疵檢測上，影像灰階分佈中如無明顯的背景與物體之分佈，將會使得影像分割難度提高。因此本研究透過獨立成份分析(Independent Component Analysis, ICA)找到瑕疵區域，後續再對瑕疵區域進行分析，避免多餘背景所造成之干擾。實驗影像以TFT-LCD群輝點(Micro-Dot Defect)及Mura瑕疵為例，其中Mura檢測過程中，亦加入中值濾波及高通濾波以濾除雜訊及增強Mura瑕疵灰階分佈，整合取像及ICA方法發展，達成離線學習及線上檢測。

    論文全文請詳附加檔案連結說明。
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