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知識分享

Automatic TFT-LCD Mura Defect Inspection Using DCT-based Background Filtering and JND Quantification

建立日期：2018/02/21
  • 作者： 陳亮嘉等
  • 出處： 台北科技大學自動化所 陳亮嘉、 Chia-Cheng Kuo
  • 內容： 本技術係關於一種影像亮度不均瑕疵的檢測方法，特別是指一種利用離散餘弦轉換(Discrete Cosine Transform, DCT)重新建構出不具瑕疵之原始背景影像，以解決影像非均一性之檢測問題，再由原始瑕疵影像與不含瑕疵的背景影像之相異性，透過適當的閥值選取，可將影像亮度不均瑕疵從影像中分割出來的檢測方法。

    本文章已在Measurement. Science Technology Vol. 19, 01 5507, 2008發表，版權屬於MST，全文請詳附加檔案連結說明。
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