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知識分享

高光譜影像儀在LED背光亮度及色彩量測上的應用

建立日期：2018/02/21
  • 作者： 徐祥瀚等
  • 出處： 工研院量測中心 徐祥瀚、藍玉屏、賴傑宏
  • 內容： 目前普遍使用於液晶顯示面板亮度及色彩之量測儀器可分為濾片式和光譜式兩種，濾片式又可分為單點和影像式。針對較大面板亮度及色彩均勻性量測，濾片單點式須量測多點不僅耗時，且無法得到整個面的資訊，影像式量測速度雖快，但量測結果有待商確。光譜式量測準確性高，但因是單點量測，同樣具有如濾片式單點量測的缺點。採用高光譜影像線掃描量測方式，不僅量測準確性高，且量測速度快，並可得到整個面板的亮度及色彩值。本論文以業界廣泛認可之SR-3A分光輻射儀與之比較，期望透過適當校正技術與軟體分析，使高光譜影像線掃描應用之信賴度及準確度有所提昇。

    論文全文請詳附加檔案連結說明。
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