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知識分享

液晶顯示器MURA缺陷量化標準之研究

建立日期：2018/02/21
  • 作者： 藍玉屏等
  • 出處： 工研院量測中心 藍玉屏、徐祥瀚、鍾宗穎
  • 內容： 液晶顯示器MURA缺陷具有低對比、邊界輝度變化緩慢的特徵，以人工檢查MURA雖然快速但卻無法量化，且容易因人員主觀因素得到不同的結果。利用儀器設備進行MURA缺陷判定，可以解決人眼無法量化的問題，但卻會因判斷準則的不同導致不同的量化結果。MURA 種類繁多定義困難，SEMI標準規範中定義了MURA量化指數SEMU，但在實際執行上對於MURA缺陷面積的量測判定有其困難度，是至今MURA缺陷量化標準未能普及的原因。本研究設計模擬產生具MURA特徵的圖像，結合輝度校正與人因實驗統計分析，得到人眼在不同亮度背景下對於缺陷輝度變化的敏感度。

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