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知識分享

多通道顯微色度量測技術

建立日期：2018/02/21
  • 作者： 張玉姍等
  • 出處： 工研院量測中心 張玉姍、楊富翔、吳智誠、林友崧、羅偕益、陳心怡
  • 內容： 全球筆記型電腦的出貨提升與液晶電視市場的倍數成長使得大型薄膜電晶體液晶顯示器 (TFT-LCD)產業產值佔有台灣平面顯示器總產值的最大宗，因此其關鍵零組件產業產值也隨之成長，其中又以彩色濾光片產業產值為最大。彩色濾光片在LCD中負擔起色彩呈現的效果，對於顯示品質有著關鍵性的影響，相關的光學參數檢測有色度值等。在近年來面板面積變大、製程速度加快的趨勢下，快速且精準的量測變得越來越重要。而在現有的色度量測技術中，多使用單點量測方法，要量測整片彩色濾光片，必須二維移動探頭或濾光片，量測時間太久，並且隨著製程技術的不斷發展，小區域之色度量測也日趨重要，因此迫切需要有新的量測方法，以達到小區域精準檢測、大範圍高速量測的需求。

    我們在量測中心建立一創新的多通道顯微色度量測裝置。該裝置利用高密度通道光譜影像裝置的多通道、高光譜解析的特性，搭配顯微物鏡為收光介面，達到小區域檢測的要求，並可同時測量濾光片上多處的色度值，因此具有高速量測、高精準量測的優點。

    論文全文請詳附加檔案連結說明。
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