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知識分享

AOI科普：偏光膜

建立日期：2018/02/21
  • 作者： 中華液晶網
  • 出處： 2004-09-17 中華液晶網
  • 內容： 偏光膜是由美國拍立得公司(Polaroid)創始人蘭特(Edwin H. Land)於1938年所發明，時至今日，雖然偏光膜在生產技巧和設備上有了許多改進，但制程的基本原理和使用的材料上仍和七十年前完全一樣。

    偏光膜的應用範圍很廣，不但能使用在LCD做為偏光材料，亦可用於太陽眼鏡、防眩護目鏡、攝影器材之濾光鏡、汽車頭燈防眩處理及光量調整器等；以LCD上之應用為例，為了達到顯示器明亮、易辨識的要求，偏光膜就必須具有清晰、高透過及高偏光性。隨著LCD產品技術愈來愈進步，針對偏光膜之著色、視角、漏光等要求相對提高，因此需要各種光學補償膜去做補償，目前是以表面加工處理（抗反射和抗眩處理）來增加偏光膜的光學及機械性能。

    日前FPD朝向大尺寸發展，大畫面、高輝度、高對比要求也因而產生各式各樣光學性不均的MURA問題，如高對比液晶與低對比液晶相比較，黑色輝度差容易被視認為不均。AOI檢測偏光膜主要在找出如：偏光膜片的穿透率不均、位相差膜片的位相差值不均、光軸方向部位造成的偏差、表面處理時的凹凸形狀分佈不均、反射率分佈不均等MURA問題。

    全文請詳參考網址連結說明，亦請參閱同期偏光膜相關文章：「技術專欄>>【液晶顯示用光學薄膜技術現況與發展】與【偏光膜製作流程】」；「簡報講義>>【TFT LCD-AOI教學檔案】」。
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