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知識分享

自動光學檢測技術的進步降低機器成本

建立日期：2018/02/21
  • 作者： 龍安靖
  • 出處： 良瑞科技
  • 內容： 良瑞AOI研發部的龍安靖博士參加2008年3月17日至19日在上海舉行的第11屆世界電子電路大會ECWC11，並在會上演講與麻省理工學院博士Pam Lipson小姐(良瑞AOI顧問)合作的論文“自動光學檢測技術的進步降低機器成本”。

    論文全文請詳夾帶檔案連結說明。
  • 檔案下載：自動光學檢測技術的進步降低機器成本
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