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知識分享

多參數量測扭轉向列型液晶之新型外差式偏光儀

建立日期：2018/02/12
  • 作者： 尤崇智等
  • 出處： 成功大學機械系 尤崇智、羅裕龍
  • 內容： 目前已發展出一新方法來量測扭轉型液晶盒的多項參數，與以往文獻不同的是，我們首先使用多目標基因演算法來分析光學外差干涉訊號的相位及強度比，同時求出液晶盒的入射液晶導軸方位角(azimuth angle)、扭轉角以及液晶盒厚度的最佳解。藉由光學外差共路徑干涉的量測架構，可降低環境擾動對於訊號的影響，並改善訊噪比(signal-to-noise ratio)；經由初步的實驗結果確認了此方法用於量測扭轉型液晶盒參數的可行性，而所得的各參數的最佳解與廠商提供數值十分接近，且經由多次量測的結果，此系統亦有相當高的穩定性。

    【論文全文請詳附加檔案說明】
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