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知識分享

液晶面板多角度光學量測

建立日期：2018/02/12
  • 作者： 楊富翔等
  • 出處： 工研院量測中心 楊富翔、羅偕益、張玉姍、魏鴻祺、王俊傑，明志科技大學機械系 王浩偉
  • 內容： 液晶面板量測技術包含如色度 (chromaticity) 、輝度(luminance) 等光學參數量測，在液晶顯示器品管中扮演極重角色。尤其在近年來面板面積變大、製程速度加快的趨勢下，快速且精準的量測變得越來越重要。而在現有的面板量測技術中，多使用單點量測方法，要量測整個面板，必須二維移動探頭或面板，量測時間太久。且為了獲得不同視角的色度、輝度等光學參數，探頭或面板必須作相對角度偏擺，旋轉及定位機構複雜，機構動作耗時。所以迄今並無可達到符合 VESA [1] 量測規範的快速量測裝置，迫切需要有新的量測方法。

    我們在量測中心建立一創新的線上多通道多視角面板量測裝置。該裝置利用高密度通道光譜影像裝置的多通道、高光譜解析的特性，結合多蕊光纖束(multi-track fiber bundle)，以一維離散多通道或二維離散多通道形式，可在符合VESA 規範下，同時量測面板多處位置及多角度下的色度、輝度等光學參數，具有高速量測、高精準量測的優點。

    【論文全文請詳附加檔案說明】
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