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以Line Pair Pattern 進行水平解析度計算之研究

建立日期：2018/02/12
  • 作者： 張維哲等
  • 出處： 致茂電子股份有限公司 張維哲、林耀明、張宏彰
  • 內容： 本研究係提出一種簡易快速相機XY 平面的校正方法，其利用一組已知線寬與線距之標準片，透過相機取像並利用影像處理方式計算出數條平行線之平均斜率，並利用此斜率來求出每一條條紋的直線方程式，如此即可確保每一條條紋皆為平行之線段，再利用數學原理可求得一與平行線垂直之直線方程式，計算此直線方程式與每一條平行線的交點，而這些交點即可求出兩平行線之影像距離，利用量測求得之影像距離與標準片上已知之條紋間距，即可換算出每個像素點所對應的實際尺寸。此方法可以將標準片任意擺放進行校正而無需考慮放置的垂直度與水平度，且其計算乃採用擬合方式計算，不僅可以增加校正的速度與方便性，更可利用次像素的解析達到更精準的校正。目前此技術已實際應用於Chroma 7502 白光干涉系統上，用來進行系統水平解析度校正使用，且該項技術亦於2005 年申請專利。

    【論文全文請詳附加檔案說明】
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