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知識分享

新型強度比率法應用於扭轉型液晶盒厚度量測

建立日期：2018/02/12
  • 作者： 蘇立軒等
  • 出處： 成功大學機械系 蘇立軒、羅裕龍
  • 內容： 本研究利用偏光旋轉調變器研發新的強度比率法架構來量測扭轉向列型液晶的液晶盒厚度，其中前兩種架構為液晶盒厚度的單點光學量測系統，第三種架構為液晶盒厚度的全場光學量測系統。偏光旋轉調變器是由兩片四分之波片以及電光調變器組成，而電光調變器是利用由訊號產生器提供的鋸齒波訊號作為驅動訊號。偏光旋轉調變器可替代機械式旋轉的偏振片，更快速且精確地調變偏振光的旋
    轉角度，因此我們可以達到更準確的量測結果以及有效縮短量測時間。在我們的全場光學量測系統中，利用電荷耦合元件(CCD)可以擷取到扭轉向列型液晶盒厚度的全場影像。與原來的強度比率法比
    較，這三種方法可以提供更快的偏光旋轉調變速度，更可靠的量測架構以及全場的光學檢測，對於液晶盒厚度檢測方法的準確度可以有效提升。

    【論文全文請詳附加檔案說明】
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