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知識分享

應用小波轉換於 TFT-LCD 之 Mura 瑕疵檢測

建立日期：2018/02/12
  • 作者： 陳響亮等
  • 出處： 成功大學製造所 陳響亮、周尚達
  • 內容： LCM上的mura瑕疵泛指呈現的均勻影像，其局部小面積具有低對比度與不均勻亮度性質。mura本身也沒有清晰的輪廓，對於觀測者造成視覺上不舒服趕。對於這種瑕疵本文利用離散小波轉換(DWT)的方法，克服背景不均勻亮度影響，成功擷取出實際mura特徵瑕疵。DWT法是採用具有對稱濾波係數的9/7 tap小波，偵測對象以小面積mura瑕疵為主，並且有效濾除彩色濾光片的規則條紋結構。

    論文全文請詳附加檔案連結說明。
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