知識分享

少量數據AI模型之訓練與佈署

建立日期:2019/10/16
  • 作者: 工研院量測中心/周森益
  • 出處: 2019 AOI論壇與展覽
  • 內容: 本篇為「2019 AOI論壇與展覽」演講簡報,內容簡介如下:

    周森益經理以瑕疵檢測分類及X ray物件偵測開發為例,分享如何使用較少量的樣本進行AI模型的訓練,以及如何將AI推論模型佈署於邊緣裝置。
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