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技術供應
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技術供應
歡迎學、研界於「技術供應」單元發表研發成果。本單元旨在建立台灣AOI技術能量的分布輪廓,有利業界在尋找技術合作夥伴時,搜尋潛在合作對象。
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桌上型外徑量測儀(關鍵字:外徑、光學)
幾何尺寸量測
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雙面微柱狀膜片的對位檢測方法與對位圖案分析
光學特性量測
工研院/量測中心
R2R UV光學膜厚度量測技術
其他
工研院/量測中心
機器視覺用高亮度led線型光源
視覺影像處理
工研院/量測中心
應用動態影像處理之光流法於液晶顯示器面板之Mura瑕疵檢測
其他
元智大學/工業管理系
應用非線性擴散模式於異質性紋路之多晶太陽能晶片表面微裂瑕疵檢測
其他
元智大學/工業管理系
視效函數偵測器
光學特性量測
工研院/量測中心
多通道色度/薄膜厚度量測系統
光學特性量測
工研院/量測中心
液晶/光學膜相位差量測系統
光學特性量測
工研院/量測中心
BEF表面形貌量測技術
幾何尺寸量測
工研院/量測中心
數位相機之影像防手振
視覺影像處理
台灣大學/資訊工程系
以對焦尋形法為基礎之方法最佳化與量測
光學特性量測
清華大學/動力機械工程系
應用X射線薄層描繪法於PCB與BGA檢測之研究
特殊光學設計、量測方法
清華大學/動力機械工程系
雷射點矩陣直寫儀
特殊光學設計、量測方法
台灣大學/應用力學研究所
超小型差分式雷射都卜勒干涉儀及測速儀
特殊光學設計、量測方法
台灣大學/應用力學研究所
廣波域多層膜自動化光學膜厚監控系統
特殊光學設計、量測方法
工研院/量測中心
熱影像技術分析 與 熱像標準技術
視覺影像處理
工研院/量測中心
半導體製程 Overlay 量測技術
其他
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