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液晶/光學膜相位差量測系統
Liquid Crystal/Compensation Film Retardation ...
發布日期:2018-03-13
研發團隊:
莊凱評
、
劉志祥
研發團隊負責人:
技術類別:
光學特性量測
應用領域:
FPD檢測
技術簡介:
光學相位差量測系統結合影像光譜儀及偏振光學量測技術,影像光譜儀具有及時多點量測光譜資訊功能,配合利用偏振光學量測技術達到同時求解具波長資訊之相位差分布,並可以從量測到的相位差數值轉換成所需之檢測參數,例如利用液晶間隙厚度及光學補償模相位缺陷等。
技術規格:
1.相位差範圍:10
2.1000 nm
3.相位差解析度:±1 nm
4.Spot Size:1
5.10 nm
6.量測探頭數目:8 channels(max)
優點:
1.具有同時量測波長相關之相位差分布。
2.影像視光譜儀體積小,又具有同時多個待測點之量測功能,可以節省擴充量測探頭時購機成本。
3.可以量測待測物各種旋轉角度之不同視角相位差分布資訊
合作或技轉聯絡人:
莊凱評/ TEL 03-5743831/手機035743831/
kpchuang@itri.org.tw
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