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2026-10-29
K3Metrology獲200萬英鎊資助推進新世代座標量測平台
英國K3Metrology取得Innovate UK計畫資助，加速Metralis座標量測平台商業化。該平台聚焦高速、精確且可追溯...
2026-10-29
光子測試需求旺！致茂Q3營收年增186% 看好CPO成長動能
致茂第三季半導體與光子測試解決方案營收年增189%，其中光子測試營收成長四倍，並已取得CPO量產首筆訂單。兩家一線客戶採用相關設備...
2026-10-28
智慧感測器推動製程最佳化與工廠品質連網
智慧感測器將量測、邊緣運算與通訊整合至生產設備，可即時監控溫度、振動、位置與刀具狀態，再與尺寸檢測結果交叉分析。此架構讓品質管理從...
2026-10-28
以檢測例外紀錄強化AI判定與現場人員判讀能力
文章建議把誤判、漏檢及無法定論的機器視覺結果建立結構化例外紀錄，保存影像、站點、配方版本、信心指標與最終處置。透過定期案例複盤，可...
2026-10-28
ORAFOL以AI機器視覺將菲涅耳透鏡檢測時間減半
ORAFOL與系統整合商導入深度學習視覺檢測，已處理逾150萬件光學元件，將菲涅耳透鏡檢測時間縮短一半，並實現24小時運作與單件追...
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財團法人工業技術研究院/量測技術發展中心 |
2026-08-11
光譜式反射儀量測技術
薄膜厚度量測 Thin film thickness measurement 厚膜厚度量測 Thick film thick...
財團法人工業技術研究院/量測技術發展中心 |
2026-09-14
晶圓疊對量測技術
晶圓疊對偏差量測 Wafer Overlay 關鍵尺寸量測 Critical Dimension Measurement
財團法人工業技術研究院/量測技術發展中心 |
2026-09-15
晶圓表面形貌量測技術
晶圓翹曲及薄膜應力量測 Wafer warpage/Bow/Film stress 矽、碳化矽、氮化鎵晶圓 Si, SiC,...
財團法人工業技術研究院/量測技術發展中心 |
2026-09-15
晶圓厚度及薄膜量測技術
薄膜厚度量測 Thin film measurement 晶圓厚度量測 Wafer thickness measuremen...