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2026-10-09
Waygate與Varex合作推動工業現場X光數位化
Waygate Technologies與Varex Imaging簽署合作協議，整合工業X光平板與可撓式偵測器、檢測軟體及全球服...
2026-10-09
OMNIVISION擴大全域快門感測器布局，鎖定工業視覺與機器人
OMNIVISION推出5MP OG05D與12MP OG12S10兩款背照式全域快門CMOS感測器，整合HDR、近紅外增敏與高速...
2026-10-08
AI4RVI推出具邊緣AI的高畫質管內視覺檢測系統
AI4RVI推出Edgevision遠端視覺檢測系統，以NVIDIA Jetson在設備端完成1080p錄影、影像擷取與相機控制，...
2026-10-07
photonicSENS單次曝光3D光場相機獲VISION Award
photonicSENS以apiCAM光場相機獲2026 VISION Award。系統透過微透鏡陣列在單一感測器、單次曝光中同步...
2026-10-07
SMTA推出進階電子組裝課程，納入3D AOI與線上X-ray
SMTA宣布進階電子組裝技術課程，內容涵蓋HDI／UHDI、精細錫膏、SPI、3D AOI、線上X-ray、低溫與雷射接合等製程。...
近期活動訊息 MORE +
目前暫無近期活動訊息。
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財團法人工業技術研究院/量測技術發展中心 |
2026-08-11
光譜式反射儀量測技術
薄膜厚度量測 Thin film thickness measurement 厚膜厚度量測 Thick film thick...
財團法人工業技術研究院/量測技術發展中心 |
2026-09-14
晶圓疊對量測技術
晶圓疊對偏差量測 Wafer Overlay 關鍵尺寸量測 Critical Dimension Measurement
財團法人工業技術研究院/量測技術發展中心 |
2026-09-15
晶圓表面形貌量測技術
晶圓翹曲及薄膜應力量測 Wafer warpage/Bow/Film stress 矽、碳化矽、氮化鎵晶圓 Si, SiC,...
財團法人工業技術研究院/量測技術發展中心 |
2026-09-15
晶圓厚度及薄膜量測技術
薄膜厚度量測 Thin film measurement 晶圓厚度量測 Wafer thickness measuremen...