USB 3 GigE CoaXPress Camera Link

AIDMS 管理系統 NVIDIA 專業繪圖卡(GPU) WinFast GPU 工作站與伺服器 桌面虛擬化Zero Client

AISVision AI 機器視覺瑕疵檢測 AISEHS 智慧工業安全防護平台 DIP 爐前 AI AOI瑕疵檢測系統 邊緣運算電腦平台，Edge AI 加速卡

應用深度學習於 DRAM 模組中焊接點檢查 基於深度學習之輪胎氣泡AOI檢出技術 生產線上出入口安全行為AI監控系統 記憶體模組產品外觀缺陷AOI檢出技術 電子元件的自動化量測及檢測 點雲物體辨識與追蹤演算法 應用高光譜技術發展農業4.0以咖啡豆品質管理 高光譜技術應用以預估火鶴花瓶插壽命 基於點雲資訊之隧道瑕疵檢測 木板瑕疵自動化檢測 鞋面鞋底自動化塗膠產線建置 銅箔瑕疵檢測 大型物件之3D視覺辨識及方位估測 機器臂視角與多軸同步控制 藥物自動辨識系統 融合深度影像及彩色影像校正方法於輪胎瑕疵檢測 高光譜訊號之皮革瑕疵檢測 薄膜電阻基板堆疊自動計數系統

生物辨識與測量 電腦輔助診斷分析系統 文件分析與摘要 智慧監控系統 半色調與影像還原技術 元學習

研究主旨在於應用先進的控制，訊號處理，與最佳化演算法以解決奈米製像與奈米科技相關的問題，尤其是奈米積體電路的製造與設計。目前主要的研究方向包括： (1)奈米等級微影製程與設備之研發； (2)奈米等級微影與晶片可製造性分析與設計軟體之研發； (3)奈米等級微影製程與設備之控制； (4)應用控制與最佳化演算法於電路自動化設計； (5)感測器與致動器陣列與其訊號處理演算法之研發。 主要研究設備包括：個人電腦、高效能工作站叢集、多種數值運算與製程元件模擬軟體、多種電子設計自動化軟體、高壓電源供應器、示波器、即時資料擷取與控制系統開發平台、奈米定位平台、與次奈米等級雷射干涉儀等。

人臉與虹膜等生物辨識技術 工業4.0與智慧製造 生醫影像與信號處理

AOI瑕疵分類檢測

結合阻抗控制與機器視覺之EtherCAT機械手臂自主學習系統 基於數據分布架構之機器手臂控制系統開發 高速高精度二維與三維影像定位技術 EtherCAT串列式多軸控制器關鍵技術開發 人工智慧(AI)深度學習之產品外觀瑕疵檢測系統 機器學習應用於光學字元辨識 智慧型工業相機軟韌體技術

3D視覺感測器 Ranger3

智慧製造 智慧醫療 智慧城市 智慧農業 AI HPC 平台 軟體憑證 Android APP

光學鏡頭: 相容Line scan 16K5um/16K3.5um/12K5um/8K7um 之0.13x~5x定焦鏡頭及變焦鏡頭 光學鏡頭: 相容大面陣29M,71M 之0.018x~0.47x變焦鏡頭 準直光系統: 對應Line scan camera之平行光系統,增加/優化MTF值,景深效果 AOI設備所需之光學元件(鏡片/菱鏡/濾光片等) 3D掃描光機: a.產品特色為Zero Offest, 3D探頭的模組設計可以更加的compact b.內嵌入TI最新光控ASIC DLP 3478， 其Pattern 的投影速度可高達2500 Hz (1-bit)與360 Hz (8-bit) c.亮度高達350lm, 可輕鬆對應1平方米的量測範圍 d.可根據不同的應用需求，選擇不同的鏡頭光圈值(目前提供f1.7/ f2.0 / f2.4)，進而達到不一樣的景深效果

光學半導體檢測平台 精密線性定位平台

刀具磨耗檢測 鏟花面檢測 鋸片尺寸檢測 手臂血管檢測 醫學檢驗試片檢測

ITO-001 ITO薄膜影像量測儀 線上自動穿透/膜厚/反射/色差量測系統 CR-001 IC邊裂IR影像缺陷檢測系統 近紅外光影像擷取系統 光纖式可見光、紫外光、近紅外光分光光譜儀 可攜帶式拉曼光譜儀 可變角度多功能光學特性檢測系統 螢光光譜檢測系統 顯微分光光譜儀 電漿光譜檢測系統(OES) 各式光學元件及光源 高光譜分析儀及軟體開發 Micro LED 面型光譜檢測儀

RE/RP(逆向工程)雷射掃描系統/快速成型機 X-Ray檢測設備 代客量測及校正服務 3DFamily手動/自動光學影像量測儀(探針/雷射型) 觸摸面板尺寸及瑕疵檢測儀器 AOI/AXI/AI客製專用檢測設備 智能檢測SI(Smart Inspection)檢測方案-"SI-Learning"+"SI-Eye"